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Pesquisador -Tecnologista em Metrologia e Qualidade/ Metrologia Aplicada a Nanometrologia - INMETRO
Pesquisador -Tecnologista em Metrologia e Qualidade/ Metrologia Aplicada a Nanometrologia - INMETRO
- Cargo: Pesquisador -Tecnologista em Metrologia e Qualidade/ Metrologia Aplicada a Nanometrologia
- Ano: 2010
- Órgão: INMETRO
- Instituição: CESPE
- Nível: Superior
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